专利质量评价指标及其在专利计量中的应用

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Title:	专利质量评价指标及其在专利计量中的应用
Author:	马廷灿; 李桂菊; 姜山; 冯瑞华
Source:	图书情报工作
Issued Date:	2012-12-20
Volume:	56, Issue:24, Pages:89-95,59
Keyword:	专利计量, 质量评价, 指标, 分类体系
Subject:	情报研究 ; 情报研究::情报研究理论与方法
Indexed Type:	GCJC
Corresponding Author:	马廷灿
Abstract:	通过对国内外专利质量评价相关研究的系统调研和梳理，提出一种新的专利质量评价指标分类体系，并选取稀土永磁这一重要的战略材料技术领域，对专利质量评价指标在专利计量中的用途进行实证研究。研究结果表明，有效地综合利用专利数量指标和质量评价指标，有助于对竞争区域、竞争机构等进行更加全面、更加深入的对比分析，快速遴选重点机构、重点专利，从而提升专利统计分析结果的深度和价值。
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Language:	中文
Content Type:	期刊论文
URI:	http://ir.las.ac.cn/handle/12502/5711
Appears in Collections:	中国科学院武汉文献情报中心_战略情报中心_期刊论文

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中国科学院国家科学图书馆武汉分馆／中国科学院武汉文献情报中心

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马廷灿,李桂菊,姜山,等. 专利质量评价指标及其在专利计量中的应用[J]. 图书情报工作,2012,56(24):89-95,59.

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