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Average Cycle of Patent Examination in PR China is the Shortest throughout the World
Tian YJ(田雅娟)
2008
发表期刊World Patent Information
卷号30期号:1页码:77-78
学科领域科学文化传播
收录类别其他
语种中文
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.las.ac.cn/handle/12502/2505
专题中国科学院成都文献情报中心_信息服务部
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GB/T 7714
Tian YJ. Average Cycle of Patent Examination in PR China is the Shortest throughout the World[J]. World Patent Information,2008,30(1):77-78.
APA 田雅娟.(2008).Average Cycle of Patent Examination in PR China is the Shortest throughout the World.World Patent Information,30(1),77-78.
MLA 田雅娟."Average Cycle of Patent Examination in PR China is the Shortest throughout the World".World Patent Information 30.1(2008):77-78.
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