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基于文献计量的纳米电子学发展态势分析
吕凤先; 刘小平
2019-12
Source Publication科学观察
Volume14Issue:6Pages:10-19
Abstract

纳米电子技术成为世界各国发展信息技术以及国民经济的重要技术,在各国政策的推动下,1990年代至今世界纳米电子学得以快速发展。中国在此领域的研究状况、与国际水平之间的差距如何?该文通过文献计量方法对近10年纳米电子学世界和中国的发展现状和趋势进行分析,期望为中国纳米电子学政策的制定和完善提供具有一定参考价值的科学依据。

Keyword纳米电子学 发展态势 文献计量
DOIDOI: 10.15978/j.cnki.1673-5668.201906002
Language中文
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Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.las.ac.cn/handle/12502/11331
Collection中国科学院文献情报中心(北京)_情报研究部
Corresponding Author吕凤先
Affiliation中国科学院文献情报中心
First Author Affilication中国科学院文献情报中心
Corresponding Author Affilication中国科学院文献情报中心
Recommended Citation
GB/T 7714
吕凤先,刘小平. 基于文献计量的纳米电子学发展态势分析[J]. 科学观察,2019,14(6):10-19.
APA 吕凤先,&刘小平.(2019).基于文献计量的纳米电子学发展态势分析.科学观察,14(6),10-19.
MLA 吕凤先,et al."基于文献计量的纳米电子学发展态势分析".科学观察 14.6(2019):10-19.
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